| 1. Identificação | |
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
| Site | mtc-m16.sid.inpe.br |
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
| Identificador | 6qtX3pFwXQZGivnJVY/M3jbb |
| Repositório | sid.inpe.br/mtc-m16@80/2006/08.03.13.58 (acesso restrito) |
| Última Atualização | 2006:11.23.11.04.23 (UTC) administrator |
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/mtc-m16@80/2006/08.03.13.58.58 |
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.05.01.16.56 (UTC) administrator |
| Chave Secundária | INPE-14333-PRE/9420 |
| ISSN | 0103-9733 |
| Chave de Citação | MenguiAbraRappUeta:2006:ChSnFi |
| Título | Characterization of SnTe films grown by molecular beam epitaxy  |
| Ano | 2006 |
| Mês | June |
| Data de Acesso | 29 abr. 2024 |
| Tipo Secundário | PRE PN |
| Número de Arquivos | 1 |
| Tamanho | 355 KiB |
| 2. Contextualização | |
| Autor | 1 Mengui, Úrsula Andréia 2 Abramof, Eduardo 3 Rappl, Paulo Henrique de Oliveira 4 Ueta, Antonio Yukio |
| Identificador de Curriculo | 1 2 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH 3 8JMKD3MGP5W/3C9JJ37 |
| Grupo | 1 LAS-INPE-MCT-BR 2 LAS-INPE-MCT-BR 3 LAS-INPE-MCT-BR 4 LAS-INPE-MCT-BR |
| Afiliação | 1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS) 2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS) 3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS) 4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS) |
| Revista | Brazilian Journal of Physics |
| Volume | 36 |
| Número | 2A |
| Páginas | 324-327 |
| Histórico (UTC) | 2006-08-03 13:58:58 :: simone -> administrator :: 2006-09-28 22:33:38 :: administrator -> simone :: 2006-11-23 11:04:23 :: simone -> administrator :: 2018-06-05 01:16:56 :: administrator -> marciana :: 2006 |
| 3. Conteúdo e estrutura | |
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
| Estágio do Conteúdo | concluido |
| Transferível | 1 |
| Tipo do Conteúdo | External Contribution |
| Palavras-Chave | SnTe molecular beam epitaxy BaF2 substrates TIN TELLURIDE SPIRAL GROWTH SI(111) PBSE PBTE |
| Resumo | A series of SnTe layers with thicknesses varying from 0.42 to 9.1 mu m were grown by molecular beam epitaxy on (111) BaF2 substrates. The SnTe lattice parameter was found to be 6.331 angstrom as determined from x-ray diffraction spectra measured in the triple-axis configuration. The FWHM of the (222) SnTe x-ray rocking curves indicated a good crystalline quality and an unusual dependence on layer thickness. Atomic force microscopy (AFM) of the SnTe surface revealed spirals with monolayer steps formed around threading dislocations, similar to the PbTe on BaF2 epitaxy.. The dislocation density was estimated from the AFM picture to be 9AC cm(-2). Small black pits corresponding to holes that were left during growth were also observed on the AFM images. Sri diffusion can be a possible reason for these pits and the relatively high dislocation density. Electrical measurements showed that the SnTe epilayers present a typical p-type carrier concentration around 10(20) cm(-3), almost temperature independent and a Hall mobility which decreases from 10(4) to 10(3) cm(2)/V.s as the temperature increases from 10 to 350K. |
| Área | FISMAT |
| Arranjo | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Characterization of SnTe... |
| Conteúdo da Pasta doc | acessar |
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
| Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
| 4. Condições de acesso e uso | |
| Idioma | en |
| Arquivo Alvo | Characterization of SnTe films.pdf |
| Grupo de Usuários | administrator simone |
| Visibilidade | shown |
| Detentor da Cópia | SID/SCD |
| Política de Arquivamento | denypublisher denyfinaldraft12 |
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 |
| 5. Fontes relacionadas | |
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 |
| Divulgação | WEBSCI; PORTALCAPES; SCIELO. |
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40 |
| 6. Notas | |
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype |
| 7. Controle da descrição | |
| e-Mail (login) | marciana |
| atualizar | |