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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Cxjvk
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/06.22.15.20   (acesso restrito)
Última Atualização2008:04.01.12.50.41 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/06.22.15.20.43
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.20.53 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-10743-PRE/6202
ISBN/ISSN0925-9635
ISSN0925-9635
Chave de CitaçãoGonçalvesSandIha:2002:ChBoDo
TítuloCharacterization of boron doped CVD diamond films by Raman spectroscopy and X-ray diffractometry
ProjetoTecnologia de plasma: Propulsão eletrostática
Ano2002
MêsAug.
Data de Acesso04 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho499 KiB
2. Contextualização
Autor1 Gonçalves, José Américo Neves
2 Sandonato, Gilberto Marrega
3 Iha, K.
Identificador de Curriculo1 8JMKD3MGP5W/3C9JHFN
2 8JMKD3MGP5W/3C9JHBA
Grupo1 LAP-INPE-MCT-BR
2 LAP-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Plasma (INPE.LAP)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Plasma (INPE.LAP)
3 Instituto Tecnológico de Aeronáutica, Divisão de química (ITA)
Endereço de e-Mail do Autor1 americo@plasma.inpe.br
RevistaDiamond and Related Materials
Volume11
Número8
Páginas1578-1583
Histórico (UTC)2005-03-17 17:56:35 :: marciana -> administrator ::
2006-09-28 22:25:48 :: administrator -> marciana ::
2008-04-01 12:50:41 :: marciana -> administrator ::
2018-06-05 01:20:53 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChavePLASMA
Diamond films
X-ray diffractometry
Raman spectroscopy
Lattice parameter
PLASMA
Filmes de diamante
Raio-x
Difractometria
Espectroscopia Raman
ResumoBoron doped diamond films grown by chemical vapor deposition on silicon (1 1 1) were measured by Raman spectroscopy and X-ray diffractometry to investigate the crystallographic direction and the lattice parameters of both the bSiC and diamond films with different levels of dopant. It was observed that the level of dopant has a significant influence on the lattice parameters for a boronycarbon ratio of 20 000 ppm, and also that the expansion of the lattice parameters was due to compressive thermal stress of diamond films.
ÁreaFISPLASMA
ArranjoCharacterization of boron...
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvocharacterization.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
marciana
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft24
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ET2RFS
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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