Fechar

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Cz6vo
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/06.25.15.54   (acesso restrito)
Última Atualização2005:05.04.03.00.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/06.25.15.54.50
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.20.55 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-12343-PRE/7649
ISBN/ISSN0021-8898
ISSN0021-8898
Chave de CitaçãoMorelhaoAvanQuivAbra:2002:TwInPr
TítuloTwo-dimensional intensity profiles of effective satellites
ProjetoTECMAT: Tecnologia de materiais / Difração de raio-x de alta resolução
Ano2002
MêsFeb.
Data de Acesso03 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho748 KiB
2. Contextualização
Autor1 Morelhao, S. L.
2 Avanci, L. H.
3 Quivy, A. A.
4 Abramof, Eduardo
Identificador de Curriculo1
2
3
4 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH
Grupo1
2
3
4 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
2 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
3 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS)
RevistaJournal of Applied Crystallography
Volume35
Páginas69-74
Histórico (UTC)2005-05-04 12:42:35 :: sergio -> administrator ::
2007-04-03 21:42:46 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:21 :: sergio -> marciana ::
2008-02-20 17:41:26 :: marciana -> administrator ::
2018-06-05 01:20:55 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveMATERIALS PHYSICS
Two-dimensional intensity
Satellites
X-ray
Diffraction
Relfection
FÍSICA DE MATERIAIS
Intensidade bidimensional
Satélites
Raio-x
Difração
Reflecção
ResumoThe observation of a new X-ray scattering process with synchrotron radiation is reported. The phenomenon is analogous to three-beam diffraction in a single crystal; however, the features in the azimuthal scans are provided by superlattice-satellite reflections instead of bulk reflections. These features were named effective satellites and they are observed over the ordinary satellite reflections as a function of the azimuthal angle. Their occurrences have been monitored in completely different superlattices by mapping the incidence and azimuthal angles of the incident X-ray beam. Effects of structural parameters of the superlattices on the effective satellites as well as the information that can be extracted by measuring their positions are discussed.
ÁreaFISMAT
Arranjourlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Two-dimensional intensity profiles...
Conteúdo da Pasta docacessar
Conteúdo da Pasta sourcenão têm arquivos
Conteúdo da Pasta agreementnão têm arquivos
4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvotwo-dimensional.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
marciana
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes number orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
atualizar 


Fechar