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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/EAi37
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.49   (acesso restrito)
Última Atualização2005:07.01.03.00.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.49.33
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.21.19 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-11836-PRE/7183
ISSN0370-1972
Chave de CitaçãoVieiraNonoCruz:2002:NaThFi
TítuloNanohardness of a Ti thin film and its interface deposited by an electron beam on a 304 SS substrate
ProjetoTECAMB: Tecnologia ambiental
Ano2002
MêsJuly
Data de Acesso03 maio 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho146 KiB
2. Contextualização
Autor1 Vieira, Rogerio de Almeida
2 Nono, Maria do Carmo de Andrade
3 Cruz, N. C.
Identificador de Curriculo1
2 8JMKD3MGP5W/3C9JHRC
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
2 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pequisas Espaciais, Laboratorio Associado de Sensores e Materiais, (INPE. LAS)
2 Instituto Nacional de Pequisas Espaciais, Laboratorio Associado de Sensores e Materiais, (INPE. LAS)
3 Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Engenharia de Guaratinguetá, Departamento de Física e Química (UNESP.FEG)
RevistaPhysica Status Solidi B: Basic Research
Volume232
Número1
Páginas116-120
Histórico (UTC)2005-07-01 11:34:37 :: sergio -> administrator ::
2007-04-04 21:00:28 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:52 :: sergio -> marciana ::
2008-03-14 13:07:49 :: marciana -> administrator ::
2008-06-10 22:28:49 :: administrator -> banon ::
2010-05-17 18:38:14 :: banon -> administrator ::
2018-06-05 01:21:19 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveSENSORS AND MATERIALS
Thin films
Electron beam
SENSORES E MATERIAIS
Filmes
Elétrons
ResumoThe results of nanohardness measurements at a film surface and film-substrate interface are presented and discussed. An electron beam device was used to deposit a Ti film on a 304 stainless steel(304 SS)substrate. The diluted interface was obtained by thermal activated atomic diffusion. The. Ti film and Ti film-304 SS interface were analyzed by energy dispersive spectrometry and were observed using atomic force microscopy. The nanohardness of the Ti film-304 SS system was measured by a nanoindentation technique. The results showed the Ti film-304 SS interface had a higher hardness value than the Ti film and 304 SS substrate. The Ti film surface had a lower hardness due to the presence of a TiO2 thin layer.
ÁreaFISMAT
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvonanohardness.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
banon
marciana
sergio
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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