Fechar | |
AFM and XRD surface analyses of TiN nanostructured films for application as mos-fet devices
Lista de arquivos depositados em: |
Nome | Última modificação | Tamanho |
:: TU_49.pdf | 15/02/2017 16:13 | 13.4 KiB |
2 arquivos escondidos |
Fechar |