| 1. Identificação | |
| Tipo de Referência | Artigo em Revista Científica (Journal Article) |
| Código do Detentor | isadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S |
| Site | mtc-m16.sid.inpe.br (namespace prefix: upn:KLE2JH) |
| Identificador | 6qtX3pFwXQZsFDuKxG/EAhGn |
| Repositório | sid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.36 (acesso restrito) |
| Última Atualização | 2014:06.26.17.45.12 (UTC) marciana |
| Repositório de Metadados | sid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.36.58 |
| Última Atualização dos Metadados | 2018:06.05.01.21.19 (UTC) administrator |
| Chave Secundária | INPE-11837-PRE/7184 |
| ISSN | 0370-1972 |
| Chave de Citação | BelotoSiSeKuLeUe:2002:ReMeAn |
| Título | Reflectance measurements of annealed porous silicon implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation  |
| Ano | 2002 |
| Mês | July |
| Data de Acesso | 23 out. 2026 |
| Tipo de Trabalho | journal article |
| Tipo Secundário | PRE PI |
| Número de Arquivos | 1 |
| Tamanho | 137 KiB |
|
| 2. Contextualização | |
| Autor | 1 Beloto, Antonio Fernando 2 Silva, Marcos Dias da 3 Senna, José Roberto 4 Kuranaga, Carlos 5 Leite, Nelia Ferreira 6 Ueda, Mario |
| Grupo | 1 LAS-INPE-MCT-BR 2 LAS-INPE-MCT-BR 3 LAS-INPE-MCT-BR 4 5 6 LAP-INPE-MCT-BR |
| Afiliação | 1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 5 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) 6 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) |
| Endereço de e-Mail do Autor | 1 beloto@las.inpe.br 2 marcos@las.inpe.br 3 jrsenna@las.inpe.br 4 5 nelia.leite@inpe.br 6 ueda@plasma.inpe.br |
| Revista | Physica Status Solidi B: Basic Research |
| Volume | 232 |
| Número | 1 |
| Páginas | 111-115 |
| Acervo Hospedeiro | sid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40 upn:KLE2JH |
| Histórico (UTC) | 2004-12-27 11:37:00 :: sergio -> administrator :: 2007-04-04 21:00:29 :: administrator -> sergio :: 2008-01-07 12:53:52 :: sergio -> administrator :: 2008-06-10 22:28:48 :: administrator -> banon :: 2010-05-17 18:38:13 :: banon -> administrator :: 2013-09-25 21:57:16 :: administrator -> marciana :: 2002 2014-06-26 17:45:12 :: marciana -> administrator :: 2002 2018-06-05 01:21:19 :: administrator -> marciana :: 2002 |
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| 3. Conteúdo e estrutura | |
| É a matriz ou uma cópia? | é a matriz |
| Estágio do Conteúdo | concluido |
| Transferível | 1 |
| Tipo do Conteúdo | External Contribution |
| Tipo de Versão | publisher |
| Palavras-Chave | solar cells emitter |
| Resumo | Porous silicon (PS) samples, approximately 1 mum thick, were obtained from p- and n-type (100)monocrystalline silicon wafers using different anodization conditions and were implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation (PIII). For comparison, polished silicon samples were implanted as well as the PS samples. The effects of implantation and of the compounds formed (SiO2 and Si3N4)on the reflectance were analyzed. Reflectance measurements of the implanted samples were carried out before and after PIII, and after annealing (1000 degreesC, 30 min in N-2)and etching in an 8 percent (w/w)HF solution for 8 min. After implantation, a reduction of the reflectance in the ultraviolet (UV)region of the spectrum was observed for the polished silicon samples. All the PS samples had strong photoluminescence (PL)before and after PIII and small changes were observed in the reflectance. After annealing, the PS samples showed an increase of the reflectance in the UV region and no PL. |
| Área | FISMAT |
| Arranjo 1 | urlib.net > Produção anterior à 2021 > LABAS > Reflectance measurements of... |
| Arranjo 2 | urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAP > Reflectance measurements of... |
| Conteúdo da Pasta doc | acessar |
| Conteúdo da Pasta source | não têm arquivos |
| Conteúdo da Pasta agreement | não têm arquivos |
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| 4. Condições de acesso e uso | |
| Idioma | en |
| Arquivo Alvo | 111_ftp.pdf |
| Grupo de Usuários | administrator banon marciana sergio |
| Grupo de Leitores | administrator marciana |
| Visibilidade | shown |
| Detentor da Cópia | SID/SCD |
| Política de Arquivamento | denypublisher denyfinaldraft |
| Permissão de Leitura | deny from all and allow from 150.163 |
| Permissão de Atualização | não transferida |
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| 5. Fontes relacionadas | |
| Unidades Imediatamente Superiores | 8JMKD3MGPCW/3ESR3H2 8JMKD3MGPCW/3ET2RFS |
| Lista de Itens Citando | sid.inpe.br/bibdigital/2013/09.25.21.49 - 77 sid.inpe.br/bibdigital/2013/09.24.19.30 - 46 sid.inpe.br/bibdigital@80/2006/04.07.15.50.13 - 8 sid.inpe.br/bibdigital@80/2006/12.20.14.49 - 1 |
| Divulgação | WEBSCI; PORTALCAPES. |
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| 6. Notas | |
| Campos Vazios | alternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel doi e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype url |
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| 7. Controle da descrição | |
| e-Mail (login) | marciana |
| atualizar | |
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